產品目錄 粒度測量方案 微米粒度儀 納米粒度儀 顆粒計數器 多角度激光光散射儀 沉降粒度儀 查看全部 >> 展開 相關文章 對梅特勒電子天平ME204進行檢定的意義在哪？ 管式爐OTF-1200X在科研和工業(yè)中的應用 高溫高壓流變儀MARS如何探索物質秘密？ 德國IKA磁力攪拌器RCT特點、應用以及選購要點 MARS高溫高壓流變儀：物質力學研究的新工具 推薦產品 火焰石墨爐原子吸收光譜儀 模塊化旋轉流變儀 你的位置：首頁 > 產品展示 > 粒度測量方案 > 產品展示 OMNIOmni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀 Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀結合了背向光散射技術與傳統動態(tài)光散射技術以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術，擁有15°，173°、90三個散射角度，突破了傳統單角度光散射儀測量的局限性，硬件PALS技術*解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的測量。 型號：OMNI 更新日期：2024-10-21 ￥面議 共 7 條記錄，當前 2 / 2 頁 首頁 上一頁 下一頁 末頁 跳轉到第頁
